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Yu Qiaoyan et al
Transient and Permanent
Error Control for
NetworksonChip
2012,159p
Hardcover
ISBN9781461409618
可靠性已经成为纳米级技术单片通信基础结构最重要的度量。降低的电源电压和高时钟频率加重了噪声源的作用,例如粒子撞击和串音,它们能引起传输数据的瞬时错误。此外,制造缺陷、电迁移及老化能引起通信链路中的永久错误。不幸的是瞬时及永久错误的管理一般导致电量消耗、等待时间以及经济负担的增加,进一步对大尺度系统设计形成挑战。作者提供了利用单片上现有的冗余资源,同时解决瞬时及永久错误校正方法。本书还介绍了一个并行的灵活的网络模拟程序,它可以用来检查各种错误控制方法对单片网络性能的影响。
本书共分7 章:1.序论:单片网络、定标技术中的可靠性挑战、可靠性、性能及能量之间的平衡,本书的编排; 2.单片网络中现有瞬时及永久错误的管理,错误控制模式、错误控制编码、备用线、拆分传输、容错路由选择;3.数据链路层自适应错误控制编码,自适应算法、发送器和接收器的体系结构、可配置的错误检测与校正、自适应ECC的评估、使用H.264应用的模拟、使用相关错误模型的性能评估; 4.瞬时及永久链接错误的共同管理,双层共同管理方法、包的重新编排方法、性能评估; 5.瞬时错误的双层合作错误控制,现有的逐段法错误控制、现有的端对端错误控制、双层ECC开关模式、双层ECC的编解码器、试验结果; 6.用于具有错误控制单片网络的灵活并行模拟程序,现有的模拟程序、错误控制评估平台、提议中的模拟程序概述、路由器及网络接口中的错误控制建模、灵活故障与通信量注入、能量估计、故障注入的速度和存储消耗、错误控制确定、故障注入的存储消耗及时间、基于单片网络的芯片多处理器(CMP)系统研究; 7.结论和未来的方向,本书总结、未来的研究工作。
本书第一作者来自美国的新罕布什尔大学,第二作者来自美国的罗切斯特大学。本书涉及的研究工作得到美国国家科学基金(NSF)等的资助。本书可供对错误控制及容错技术感兴趣的研究人员,单片网络、单片系统以及芯片多处理器的设计师,涉及并行模拟工具开发的工程师阅读参考。
胡光华,退休高工
(原中国科学院物理学研究所)
Hu Guanghua, Senior Software Engineer
(Former Institute of Physics,CAS)